ATP5020P：賦能二維材料光學研究，助力PdSe?多功能光電器件突破
在現代光電集成器件中，如何在單一材料平臺上實現光探測、光波導與光調制等多種功能，一直是科研與產業界關注的焦點。
近日，一項發表于《Nature Communications》 的重要研究《Multifunctional van der Waals PdSe? for light detection, guiding and modulation》中，奧譜天成ATP5020P光纖光譜儀為揭示PdSe?的寬帶光學特性提供了可靠的數據支撐。
研究背景：PdSe?的多功能光學特性
PdSe?作為一種具有正交晶系的層狀范德華材料，在不同波長范圍內展現出半導體、高折射率介質和類金屬三種光學行為，使其成為理想的多功能光電集成平臺。為了全面表征其各向異性光學常數，研究團隊采用了偏振分辨反射譜測量技術，而其中核心的光譜采集設備正是ATP5020P光纖光譜儀。
在該研究中，研究人員搭建了一套分體式偏振分辨反射率測量系統，將顯微鏡、偏振器與ATP5020P光譜儀相結合，實現了在550–900 nm波長范圍內對PdSe?薄片在不同偏振方向下的反射率精確測量。
這些數據為后續提取PdSe?沿不同晶軸的復折射率（n+ik）奠定了實驗基礎。
ATP5020P的技術優勢體現：
高靈敏度與寬光譜范圍：覆蓋從可見到近紅外波段，滿足多維度光學表征需求。
模塊化設計：可與顯微鏡、偏振器等光學部件靈活集成，適用于分體式或集成式光學系統。
偏振分辨能力：支持對各向異性材料（如PdSe?）在不同晶軸方向的光學響應進行精確測量。
小光斑測量：結合高倍物鏡，實現對微米級樣品的局部光譜采集。
應用拓展：ATP5020P在光電材料研究中的潛力
除了在PdSe?研究中的應用，ATP5020P光纖光譜儀還適用于：
二維材料光學常數提取（如MoS?、WS?、黑磷等）；
微區反射/透射光譜測量；
偏振分辨光譜分析；
光電探測器響應譜標定；
納米光子器件性能評估；
參考文獻
1. Slavich, A., Ermolaev, G., Pak, N. et al. Multifunctional van der Waals PdSe2 for light detection, guiding and modulation. Nat Commun 16, 9201 (2025).
結語
奧譜天成ATP5020P光纖光譜儀憑借其高精度、靈活集成與寬譜段覆蓋的特點，已成為現代光電材料研究中不&可&或&缺的光學測量工具。
在PdSe?等多功能范德華材料的研究中，它為我們理解材料本質、推動器件集成提供了堅實的數據基礎。未來，我們將繼續攜手科研與產業伙伴，用先進的光譜技術，照亮光電集成的創新之路。
